Información Básica
Nombre: Boy Wei
Institución: Qilu
Registro: 2024-07-20
Puntuación: 43
Conferencias Seguidas
CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Notificación | Conferencia |
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No se encontraron resultados. |
Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Conferencia |
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No se encontraron resultados. |
Conferencias Asistidas
CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Conferencia | Ubicación |
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Nombre Completo | Conferencia | Ubicación |
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Revistas Seguidas
CCF | Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor | ISSN |
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Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor |
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Investigadores Seguidos
Nombre | Institución | Registro | Puntuación |
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Nombre | Institución | Puntuación |
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Trabajos rastreados
Título profesional | Empleadora | locación de trabajo |
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Título profesional | Empleadora | locación de trabajo |
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Conferencias vistas
CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Notificación | Conferencia |
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No se encontraron resultados. |
Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Conferencia |
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No se encontraron resultados. |
Revistas vistos
CCF | Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor | ISSN |
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c | Computational Visual Media | 17.30 | Springer | 2096-0433 |
The International Journal of Advanced Manufacturing Technology | 2.900 | Springer | 0268-3768 | |
Applied Soft Computing | 7.200 | Elsevier | 1568-4946 | |
c | Neurocomputing | 5.500 | Elsevier | 0925-2312 |
c | International Journal of Neural Systems | 6.600 | World Scientific | 0129-0657 |
b | Pattern Recognition | 7.500 | Elsevier | 0031-3203 |
a | IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence | 20.80 | IEEE | 0162-8828 |
Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor |
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Computational Visual Media | 17.30 | Springer |
The International Journal of Advanced Manufacturing Technology | 2.900 | Springer |
Applied Soft Computing | 7.200 | Elsevier |
Neurocomputing | 5.500 | Elsevier |
International Journal of Neural Systems | 6.600 | World Scientific |
Pattern Recognition | 7.500 | Elsevier |
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence | 20.80 | IEEE |