Información Básica
Nombre: Yu Bai
Institución: Harbin Institute of Technology
Registro: 2025-03-18
Puntuación: 55
Conferencias Seguidas
CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Notificación | Conferencia |
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c | a1 | ISCAS | International Symposium on Circuits and Systems | 2024-10-14 | 2025-01-20 | 2025-05-25 | |
a | b1 | ISSCC | International Solid-State Circuits Conference | 2024-09-04 | 2025-02-16 | ||
I2MTC | International Instrumentation and Measurement Technology Conference | 2023-12-08 | 2024-01-24 | 2024-05-20 | |||
a | b3 | VLSI-SoC | International Conference on VLSI and System-on-Chip | 2022-05-02 | 2022-07-04 | 2022-10-03 | |
AUTOTESTCON | IEEE AUTOTESTCON | 2024-08-26 |
Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Conferencia |
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ISCAS | International Symposium on Circuits and Systems | 2024-10-14 | 2025-05-25 |
ISSCC | International Solid-State Circuits Conference | 2024-09-04 | 2025-02-16 |
I2MTC | International Instrumentation and Measurement Technology Conference | 2023-12-08 | 2024-05-20 |
VLSI-SoC | International Conference on VLSI and System-on-Chip | 2022-05-02 | 2022-10-03 |
AUTOTESTCON | IEEE AUTOTESTCON | 2024-08-26 |
Conferencias Asistidas
CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Conferencia | Ubicación |
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No se encontraron resultados. |
Nombre Completo | Conferencia | Ubicación |
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No se encontraron resultados. |
Revistas Seguidas
CCF | Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor | ISSN |
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No se encontraron resultados. |
Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor |
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No se encontraron resultados. |
Investigadores Seguidos
Nombre | Institución | Registro | Puntuación |
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No se encontraron resultados. |
Nombre | Institución | Puntuación |
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No se encontraron resultados. |
Trabajos rastreados
Título profesional | Empleadora | locación de trabajo |
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No se encontraron resultados. |
Título profesional | Empleadora | locación de trabajo |
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No se encontraron resultados. |
Conferencias vistas
CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Notificación | Conferencia |
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AUTOTESTCON | IEEE AUTOTESTCON | 2024-08-26 | |||||
VLSI | International Conference on VLSI | 2021-12-15 | 2021-11-22 | 2021-11-27 | |||
I2MTC | International Instrumentation and Measurement Technology Conference | 2023-12-08 | 2024-01-24 | 2024-05-20 | |||
a | b3 | VLSI-SoC | International Conference on VLSI and System-on-Chip | 2022-05-02 | 2022-07-04 | 2022-10-03 | |
a | b1 | ISSCC | International Solid-State Circuits Conference | 2024-09-04 | 2025-02-16 | ||
c | a1 | ISCAS | International Symposium on Circuits and Systems | 2024-10-14 | 2025-01-20 | 2025-05-25 |
Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Conferencia |
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AUTOTESTCON | IEEE AUTOTESTCON | 2024-08-26 | |
VLSI | International Conference on VLSI | 2021-12-15 | 2021-11-27 |
I2MTC | International Instrumentation and Measurement Technology Conference | 2023-12-08 | 2024-05-20 |
VLSI-SoC | International Conference on VLSI and System-on-Chip | 2022-05-02 | 2022-10-03 |
ISSCC | International Solid-State Circuits Conference | 2024-09-04 | 2025-02-16 |
ISCAS | International Symposium on Circuits and Systems | 2024-10-14 | 2025-05-25 |
Revistas vistos
CCF | Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor | ISSN |
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Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor |
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