Información Básica
Nombre: Sun T
Institución: University
Registro: 2024-12-11
Puntuación: 112
Conferencias Seguidas
CCFCOREQUALISAbreviaciónNombre CompletoEntregaNotificaciónConferencia
cAPNetAsia-Pacific Workshop on Networking2025-03-062025-04-252025-08-07
AbreviaciónNombre CompletoEntregaConferencia
APNetAsia-Pacific Workshop on Networking2025-03-062025-08-07
Conferencias Asistidas
CCFCOREQUALISAbreviaciónNombre CompletoConferenciaUbicación
aa*a1MobiComInternational Conference on Mobile Computing and Networking2025-11-15Hong Kong, China
cAPNetAsia-Pacific Workshop on Networking2025-08-07Shanghai, China
Nombre CompletoConferenciaUbicación
International Conference on Mobile Computing and Networking2025-11-15Hong Kong, China
Asia-Pacific Workshop on Networking2025-08-07Shanghai, China
Revistas Seguidas
CCFNombre CompletoFactor de ImpactoEditorISSN
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Nombre CompletoFactor de ImpactoEditor
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Investigadores Seguidos
NombreInstituciónRegistroPuntuación
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NombreInstituciónPuntuación
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Trabajos rastreados
Título profesionalEmpleadoralocación de trabajo
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Título profesionalEmpleadoralocación de trabajo
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Conferencias vistas
CCFCOREQUALISAbreviaciónNombre CompletoEntregaNotificaciónConferencia
cAPNetAsia-Pacific Workshop on Networking2025-03-062025-04-252025-08-07
caa2ICDARInternational Conference on Document Analysis and Recognition2025-02-072025-04-252025-09-17
ca2SMIShape Modeling International2025-03-312025-06-302025-10-29
aa*a1MobiComInternational Conference on Mobile Computing and Networking2025-03-112025-05-102025-11-15
AbreviaciónNombre CompletoEntregaConferencia
APNetAsia-Pacific Workshop on Networking2025-03-062025-08-07
ICDARInternational Conference on Document Analysis and Recognition2025-02-072025-09-17
SMIShape Modeling International2025-03-312025-10-29
MobiComInternational Conference on Mobile Computing and Networking2025-03-112025-11-15
Revistas vistos
CCFNombre CompletoFactor de ImpactoEditorISSN
cIEEE Internet of Things Journal8.200IEEE2327-4662
Nombre CompletoFactor de ImpactoEditor
IEEE Internet of Things Journal8.200IEEE