Información Básica
Nombre: Bill Williams
Institución: Jiangxi University of Science and Technology
Registro: 2024-11-11
Puntuación: 52
Conferencias Seguidas
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Conferencias Asistidas
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Revistas Seguidas
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Investigadores Seguidos
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Trabajos rastreados
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Conferencias vistas
CCFCOREQUALISAbreviaciónNombre CompletoEntregaNotificaciónConferencia
CETAInternational Conference on Computer Engineering, Technologies and Applications2024-11-252024-12-252025-04-16
AIRCInternational Conference on Artificial Intelligence, Robotics, and Control2024-11-202024-12-202025-04-09
AIMLMIAsia Conference on Advanced Artificial Intelligence, Machine Learning and Man-machine Interaction2023-07-302023-08-052023-08-18
MINDInternational Conference on Machine Learning, Image Processing, Networks and Data Sciences2018-12-152018-12-302019-03-03
ICMLSCInternational Conference on Machine Learning and Soft Computing2024-12-152025-01-152025-01-24
ICMLTInternational Conference on Machine Learning Technologies2025-01-052025-02-052025-05-23
b4ICMLCInternational Conference on Machine Learning and Computing2024-12-302025-01-152025-02-14
caa2IJCNNInternational Joint Conference on Neural Networks2025-01-152025-03-312025-06-30
aa*a1CVPRIEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition2024-11-142025-02-262025-06-10
aa*a1ICMLInternational Conference on Machine Learning2025-01-23 2025-07-13
Revistas vistos
CCFNombre CompletoFactor de ImpactoEditorISSN
Applied Ontology2.500IOS Press1570-5838
International Journal of Fuzzy Logic and Intelligent SystemsKorean Institute of Intelligent Systems1598-2645
Computer Science & Engineering: An International Journal AIRCC2231-3583
cInformation Retrieval1.700Springer1386-4564
bSoftware Testing, Verification and Reliability1.500John Wiley & Sons, Ltd1099-1689
Nombre CompletoFactor de ImpactoEditor
Applied Ontology2.500IOS Press
International Journal of Fuzzy Logic and Intelligent SystemsKorean Institute of Intelligent Systems
Computer Science & Engineering: An International Journal AIRCC
Information Retrieval1.700Springer
Software Testing, Verification and Reliability1.500John Wiley & Sons, Ltd